ProSp-RTM-UV/VIS全角度光譜測量系統，搭配高性能的海洋光學光纖光譜儀，通過對入射和接收兩臂的角度控制，實現材料任意角度的光譜測量。

產品介紹：

ProSp-RTM-UV/VIS全角度光譜測量系統，搭配高性能的海洋光學光纖光譜儀，通過對入射和接收兩臂的角度控制，實現材料任意角度的光譜測量。它可以在很多領域發揮作用，如微納結構材料和器件、薄膜材料、濾光片、表面等離子體耦合共振器件、發光材料和器件、指紋按鍵器件等。ProSp-RTM-UV/VIS測量方式有：反射光譜測量（上反射和下反射）、透射光譜量、輻射光譜測量和散射/熒光光譜測量。每種測量方式都由系統自動完成，我們僅需要選擇測量方式、設置測量參數，調整樣品位置即可。系統也支持手動測量方式，即我們可以把入射臂和接收臂，運行到任意的角度位置進行光譜測量。

功能描述：

1、全角度測量：接收端0-360度，發射端0-270度

2、高角度分辨率：分辨率達0.01°；

3、全光譜測量：光譜范圍250-2500nm，搭配高性能的海洋光學光纖光譜儀；

4、不同測量模式：可以實現上反射、下反射、透射、散射、輻射等多種模式；

5、自動測量模式：通過軟件設置（測量模式、接收角范圍、入射角范圍、角度分辨率、循環次數、積分時間等），實現不同模式的自動測量，中間不需人為干預；

6、手動測量模式：可以任意控制樣品臺的入射角、接收角進行光譜測量；

7、靈活的光源選擇：自帶鎢燈光源和外接光源；

8、可擴展：可以在光路中增加濾波片、偏振片、波片等不改變光路的光學器件；

應用領域      

微納光學

材料學

生物技術

礦物分析

防偽

LED光源

液晶顯示

材料鍍膜等

不同角度的反射率譜線

測量模式

反射測量（上反射/下反射）模式	透射測量模式
散射/熒光測量模式	輻射測量模式

參數指標

選配產品

可定制顯微光譜角分辨系統